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AI加速漏洞利用,传统漏洞管理模式已难以应对
2026-10-08

AI加速漏洞利用,传统漏洞管理模式已难以应对

AI正在压缩漏洞利用时间窗口,传统基于CVSS评分的漏洞管理模式已难以应对现实风险。文章指出,安全团队应转向基于上下文的风险模型,结合生产环境扫描、可达性分析与威胁情报,将"修多少漏洞"转变为"优先修哪些真实风险"。

弥合芯片检测中的可见性缺口

弥合芯片检测中的可见性缺口

随着先进封装日趋复杂,单一检测工具均存在物理或空间盲区。业界专家指出,电气测试、X射线、声学检测、嵌入式传感器等手段各有局限,关键在于打通晶圆数据、制造历史与现场反馈,通过跨维度数据关联缩小不确定性,而非依赖单一"万能"...